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【芯片封装】芯片封装焊接表面的前处理详解
昨天 10:55   浏览:80   来源:小萍子

一、5 秒焊接的三重保障

芯片封装焊接的核心要求是 “快速润湿、稳定键合、长期可靠”,前处理的使命就是为这三点铺路,本质是解决三个关键问题。

除氧化:金属焊垫暴露在空气中,会快速形成氧化层,哪怕厚度只有几纳米,也会阻碍焊锡与金属的化学键合,导致无润湿;

防污染:封装过程中的有机残留、手指接触的油污、环境粉尘,会让焊锡 “抗润湿”—— 看似沾住了,实则结合不牢,高温或振动下易脱落;

提沾锡能力:通过表层处理,让金属表面与焊锡的相容性提升,确保熔融焊锡能快速铺展,形成致密的焊点。

这三点直接决定焊接结果,做好了,焊点强度高、耐温耐老化;做差了,哪怕后续工艺再精准,也可能出现 “虚焊隐患”。

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二、第一步:清洁处理

1. 化学清洗:针对性除氧化

用酸类、专用化学溶剂溶解氧化层,比如铜焊垫用弱酸性溶液去除 CuO,镍焊垫用专用螯合剂分解 NiO。优点是清洁彻底,适合批量处理;但要注意两点:

避免侵蚀封装材料:比如陶瓷封装的玻璃与铁镍引脚界面,强酸会破坏结合力,导致封装密封失效;

控制清洁时间:过度清洗会让金属表面过度腐蚀,反而降低后续镀层附着力。

2. 助焊剂清洁:焊接时同步除杂

助焊剂是 “清洁 + 助润湿” 二合一,焊接时高温下分解氧化层,同时降低焊锡表面张力。但选择助焊剂有讲究:

匹配金属类型:不同金属的氧化层特性不同,比如金焊垫适合弱活性助焊剂,铜焊垫需要中强活性助焊剂;

控制活性强度:活性太高会残留腐蚀性物质,长期导致焊点腐蚀;活性太低则除氧化不彻底。

3. 物理清洁:应对顽固污染

针对有机残留、粉尘等顽固污染物,可采用等离子体清洗或超声波清洗。比如等离子体能分解有机污染物,超声波则通过振动剥离微小杂质,适合对化学溶剂敏感的精密封装。

三、第二步:防护处理 

清洁后的金属表面非常脆弱,暴露在空气中会快速二次氧化,所以必须立即做防护处理 —— 镀一层保护层,既防氧化,又能提升沾锡能力。主流的防护方式有两种。

1. 热焊锡沉浸

把清洁后的焊垫或引脚浸入熔融焊锡中,形成一层锡层保护膜,工艺简单、成本低,是金属引脚的常用方案。

匹配焊锡成分:尽量与后续焊接用的焊锡一致,避免成分差异导致焊点脆化;若无法一致,就用共晶焊锡,兼容性更强;

控制工艺参数:沉浸时间 2-3 秒,温度过高会损伤元器件,尤其是敏感的半导体芯片;二次沉浸能提升镀层均匀性,是改善沾锡能力的常用技巧。

2. 电镀 / 化学镀层

通过电镀或化学镀形成保护层,适合对精度要求高的焊垫,镀层材料选择有明确讲究:

最优选择锡(Sn),锡与焊锡相容性好,不会形成脆性金属间化合物,沾锡能力强;避免使用金(Au),金易与焊锡中的锡生成 AuSn₄脆性 IMC,导致焊点易断裂;银(Ag)防护性差,还容易长须晶,引发短路;铜(Cu)、镍(Ni)作为黏着层和扩散阻挡层,能提升锡层附着力,防止焊锡扩散到基材中。

但电镀要警惕隐性污染,电镀槽中的有机杂质会形成污染膜,导致抗润湿、镀层剥落、焊点松脱等问题,所以必须定期检测电镀液纯度。

四、沾锡能力检测

清洁和防护做得好不好,不能靠目测,要通过专业检测验证沾锡能力,三种主流方法各有优劣。

1. 沉浸检视法

模拟焊接条件,把试片浸入焊锡后目视检查,操作简单、成本低,适合批量抽检。但缺点是主观判断,无法量化焊接过程中的润湿变化,容易遗漏隐性缺陷。

2. 润湿天平测量法

通过测量润湿过程中的表面张力变化,给出量化数据,能完整评估焊接全过程。但设备昂贵,适合研发阶段或关键产品检测。

3. 润湿时间测定法

用锡球试验或旋转沉浸试验,测量焊锡润湿表面的时间,能辅助判断沾锡能力,但耗时久、结果主观,适合搭配前两种方法使用。


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