首先,要明白为什么需要表面处理:
防止铜氧化:裸铜在空气中极易氧化,形成的氧化铜会严重损害可焊性。
提供可焊层:为元器件和PCB之间的焊接提供良好的焊接表面。
维持信号完整性:某些处理(如ENIG,沉金)能为高频信号提供良好的表面一致性。
我们将详细探讨最常见的六种工艺:HASL, ENIG, OSP, ImSn, ImAg, 和ENEPIG。
工艺过程:将PCB浸入熔融的铅锡焊料中,然后用热空气将多余的焊料吹走,得到一个平整、厚度均匀的焊料涂层。
分类:
有铅HASL:传统工艺,使用Sn/Pb焊料(如63Sn/37Pb)。
无铅HASL:为符合RoHS指令,使用无铅焊料(如SAC305)。
优点:
成本最低:是所有工艺中最经济的。
焊接性能极佳:焊料本身就是焊接材料,兼容性最好。
储存时间长:厚实的焊料层能提供长久的保护。
工艺成熟:应用多年,非常可靠。
缺点:
表面平整度差:不适合高密度、细间距元器件(如BGA, QFP)。
热冲击大:熔融焊料温度高(~250°C),对板材是热冲击,可能导致变形。
引脚短路风险:对于非常细密的引脚,可能因焊料桥接而短路。
有铅环保问题:有铅工艺逐渐被淘汰。
应用场景:低成本消费电子、电源板、低密度PCB、对平整度要求不高的场合。
工艺过程:通过化学方法在铜面上先沉积一层镍(~3-6μm),再在镍上沉积一层薄金(~0.05-0.1μm)。
镍层:是真正的阻隔层和可焊层,防止铜扩散。
金层:保护镍在存储期间不被氧化,并提供极好的接触表面。
优点:
表面非常平整:非常适合细间距BGA, QFN等。
抗氧化能力强:金层稳定,存储寿命长。
可完成Wire Bonding:可用于芯片与PCB的打线连接。
适合接触界面:如金手指、测试点,接触电阻小且稳定。
缺点:
成本较高:比HASL和OSP贵。
黑盘问题:工艺控制不当会导致镍层过度腐蚀(磷含量失控),形成脆弱的富磷层,在焊接时引起焊点脆裂,可靠性下降。这是ENIG最著名的风险。
工艺复杂:对化学药水控制和流程管理要求高。
应用场景:智能手机、通信设备、高速数字电路、需要Wire Bonding的芯片、高可靠性产品。
工艺过程:在清洁的铜表面通过化学方法生长一层极薄的有机氮杂环化合物膜(厚度约0.2-0.5μm)。这层膜在常温下保护铜不被氧化,在焊接高温下会迅速溶解到焊锡中,露出新鲜的活性铜表面完成焊接。
优点:
表面极其平整:膜非常薄,不影响PCB线路的原始平整度。
成本低廉:仅次于HASL。
焊接强度好:焊点直接与铜形成合金,强度高。
环保:工艺流程简单,无重金属污染。
缺点:
存储条件苛刻:对湿度和温度敏感,存储时间短(通常3-6个月)。
不耐多次回流焊:通常只能承受2-3次回流焊。
检测困难:膜层透明且薄,目视和电测检查都较困难。
必须尽快组装:SMT后不能长时间存放,需尽快完成组装。
应用场景:大宗消费电子(如电脑主板、家电板卡)、成本敏感且需要高平整度的产品。
工艺过程:通过置换反应,在铜表面沉积一层光亮、致密的锡层(~1μm)。锡与铜会形成Cu6Sn5金属间化合物。
优点:
非常平整:适合细间距器件。
与无铅焊接兼容性好。
可返工性强。
缺点:
锡须风险:锡晶粒在长时间应力或温湿度循环下可能自发长出“锡须”,导致短路风险。这是沉锡工艺最大的顾虑。
存储寿命短:锡层会持续与铜反应,消耗锡层,超过一年后可能导致可焊性下降。
怕指纹:人手汗液会污染表面。
应用场景:对平整度有要求但预算有限的场合,需避开对锡须有严格限制的领域(如航空航天、汽车电子)。
工艺过程:与沉锡类似,通过置换反应在铜表面沉积一层极薄的银层(~0.1-0.4μm)。
优点:
表面平整度好。
可焊性极佳,焊接性能接近HASL。
信号完整性好:在高频RF电路中表现优异。
缺点:
易硫化发黄:银暴露在含硫空气中会生成硫化银而发黄,影响外观和可焊性。
易卤化/电化学迁移:在潮湿和电场环境下,银离子可能发生迁移,导致绝缘下降甚至短路。
存储要求高:需真空包装,并尽快使用。
应用场景:通信设备、RF射频板、高速数字电路。
工艺过程:在ENIG的基础上,在镍和金之间增加了一层极薄的钯层(~0.05-0.1μm)。结构为:Cu / Ni / Pd / Au。
钯层:作为“牺牲层”,阻止镍向金层迁移,从而彻底根除了“黑盘问题”。同时,在焊接时,金和钯都会迅速溶解到焊料中,直接在新鲜的镍表面形成焊点,非常可靠。
优点:
解决黑盘问题:可靠性最高。
适合多种连接方式:同时完美兼容焊接(Solder)和金线/铝线绑定(Wire Bonding)。
表面平整。
缺点:
成本最高:因为使用了贵金属钯。
工艺最复杂。
应用场景:航空航天、军事、医疗电子等超高可靠性领域;需要同时进行金线绑定和焊接的芯片(如一些高端FPGA或CPU模块)。
为了更直观地对比,可以参考下表:
| 表面平整度 | 优 | 极优 | 优 | 优 | 优 | |
| 可焊性 | 极佳 | 极佳 | ||||
| 成本 | 极低 | 低 | 极高 | |||
| 存储寿命 | 很长 | 很长 | ||||
| 适合细间距 | 是 | 是 | 是 | 是 | 是 | |
| Wire Bonding | 金/铝线 | |||||
| 主要风险 |
预算是否极度敏感?
是 -> 选择 HASL(无铅)。如果能接受平整度问题。
否 -> 进入下一步。
板子上是否有细间距BGA(如引脚间距<0.8mm)或QFN?
否 -> HASL(无铅) 仍然是一个可靠且廉价的选择。
是 -> 进入下一步。
产品是否需要金线绑定(Wire Bonding)?
是 -> 选择 ENIG(金线)或 ENEPIG(金/铝线均可,可靠性更高)。
否 -> 进入下一步。
产品的预期存储和周转时间是多久?
短(< 6个月),且生产节奏快 -> OSP 是性价比极高的选择。
长(> 6个月) -> 进入下一步。
在ENIG, ImSn, ImAg中做最终选择:
追求通用性和市场接受度 -> ENIG。这是目前最主流的高端选择,平衡了性能、可靠性和成本。
追求极佳的信号完整性和焊接性能,且能控制好生产和存储环境 -> ImAg。常见于高速/射频领域。
预算介于OSP和ENIG之间,且不用于有高可靠性要求的汽车、航天领域 -> ImSn。