随着芯片制程微缩,金属互连线间距缩小,传统SiO₂的电容效应导致信号延迟和功耗增加。Low-K材料通过减少互连线间的寄生电容,使RC延迟降低并显著提升芯片速度。
互连线间的耦合电容与k值成正比。Low-K材料通过降低k值,减少电容耦合效应,使相邻线路的串扰噪声降低,允许更密集的布线设计。
现代芯片采用10层以上的金属互连,Low-K材料的高绝缘性和低热膨胀系数可避免层间应力开裂,保障结构稳定性。
Low-K材料根据成分可分为三大类,其合成工艺和原料差异显著:
无机多孔材料 | |||
有机高分子材料 | |||
有机/无机复合材料 |
化学气相沉积(CVD)
旋涂法
多孔材料易脆裂,需通过掺杂纳米颗粒如SiO₂纳米球提升硬度。例如,掺入10% SiO₂可使多孔Low-K薄膜的杨氏模量从3 GPa提升至8 GPa。
Low-K材料的孔隙可能被铜原子渗透,需集成超薄阻挡层(如2nm的TiN)以防止互联金属铜扩散导致漏电。
材料疏松易导致抛光不均匀,需要使用压力抛光液(如含二氧化铈磨料)。