化学机械抛光(CMP)技术是集成电路制造中确保全局表面平整度的关键步骤,它能生成既光滑又无损伤和杂质污染的表面。 CMP结合了化学与机械的双重机制:首先,工件表层材料与抛光液中的化学试剂发生反应,形成一层易于剥离的软化层;随后,借助抛光液内的磨粒与抛光垫的机械摩擦作用,去除这层软化物质,暴露出新鲜的工件表面继续参与化学反应。这一过程在化学与机械效应的不断交替中,实现工件表面的精细抛光。 随着光刻技术中透镜的数值孔径越来越大导致了曝光视场聚焦深度越来越浅的问题,以及多层金属互连工艺的广泛应用,CMP技术应运而生并迅速发展,市场需求也持续增长。CMP设备集成了机械工程、流体力学、材料化学、精密制造以及先进控制软件等多学科的尖端技术,是集成电路制造设备中技术复杂度高、研发难度大的设备类别之一。 END 转载内容仅代表作者观点不代表中国科学院半导体所立场